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    薄膜測厚儀

    更新時(shí)間：2024-06-04

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    薄膜測厚儀采用(yòng)光譜幹涉原理(lǐ)進行測量，具有非接觸、無破壞、快(kuài)速等特點，可在真空(kōng)環境使用(yòng)；可與大(dà)行程工(gōng)件台配合，實現(xiàn)大(dà)面積膜厚自(zì)動測量。
    了(le)解詳情
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